Date:
2010-01-21
/Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés, Bilingüe
Summary (English):
IEC 60747-14-1:2009 describes general items concerning the specifications for sensors, which are the basis for specifications given in other parts of this series for various types of sensors. Sensors described in this standard are basically made of semiconductor materials, however, the statements made in this standard are also applicable to sensors using materials other than semiconductor, for example dielectric and ferroelectric materials. The major changes with regard to the previous edition are as follows: a) Title change from "Semiconductor sensors - General and classification" to "Semiconductor sensors - Generic specification for sensors"; b) Clause 3 has been divided into three Clauses 3, 4 and 5; c) Added new terms from IEC 60747-14-5; d) Added a new Clause relating to Quality assessment procedures; e) Added a Bibliography; f) Added a new Annex for the sampling procedure.
Summary (French):
La CEI 60747-14-1:2009 décrit des points généraux concernant les spécifications pour capteurs, qui sont le fondement des spécifications données dans d'autres parties de cette série pour divers types de capteurs. Les capteurs décrits dans cette norme sont essentiellement constitués de matériaux semi-conducteurs; cependant, les indications figurant dans la présente norme sont également applicables aux capteurs utilisant des matériaux autres que semiconducteurs, comme par exemple, des matériaux diélectriques et ferroélectriques. Les modifications principales par rapport à l'édition précédente sont les suivantes: a) Modification du titre, antérieurement "Capteurs à semiconducteurs - Généralités et classification" remplacé par "Capteurs à semiconducteurs - Spécification générique pour les capteurs"; b) L'Article 3 a été divisé en trois Articles 3, 4 et 5; c) Ajouts de nouveaux termes de la CEI 60747-14-5; d) Ajout d'un nouvel Article relatif aux Procédures d'assurance de la qualité; e) Ajout d'une Bibliographie; f) Ajout d'une Annexe relative à la procédure d'échantillonnage.
Relationship with other IEC standards