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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60747-14-3:2009

IEC 60747-14-3:2009

Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors

Dispositifs à semiconducteurs - Partie 14-3: Capteurs à semiconducteurs - Capteurs de pression

Date:
2009-04-29 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés, Bilingüe
Summary (English):
IEC 60747-14-3:2009 specifies requirements for semiconductor pressure sensors measuring absolute, gauge or differential pressures. The major technical change with regard to the previous edition is the addition of a new subclause 5.9 (measuring method of linearity).

This publication should be read in conjunction with IEC 60747-1:2006.
Summary (French):
La CEI 60747-14-3:2009 spécifie les exigences pour les capteurs de pression à semiconducteurs mesurant les pressions absolues, manométriques ou différentielles. Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes: ajout d'un nouveau paragraphe 5.9 (méthode de mesure de la linéarité).

Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.
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