Date:
2003-02-20
/Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.
Summary (French):
Utilisé pour déterminer la sensibilité à la dégradation des dispositifs à semiconducteurs placés dans un environnement de neutrons. Applicable aux circuits intégrés et aux dispositifs à semiconducteurs.
Relationship with other IEC standards