IEC 60749-27:2003

2003-10-21 /Anulada

Bilingüe

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model electrostatic discharge. The objective is to provide reliable, repeatable test results so that accurate classifications can be performed. The testing shall be selected from this test method or the human body model (see IEC 60749-26).

Etablit une procédure normalisée pour les essais et la classification des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique sur un modèle de machine défini. Le but de cette norme est de fournir des résultats d'essai fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées. L'essai doit être choisi entre la présente méthode d'essai et celle du modèle du corps humain (voir CEI 60749-26).

• Reemplaza a: IEC PAS 62180:2000
• Es anulada por: IEC 60749-27:2006