Skip main navigation
You are at: Home>Standards>Standard finder>IEC

Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-10:2002

IEC 60749-10:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mécaniques

Date:
2002-04-09 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Describes a shock test intended to determine the suitability of component parts for use in electronic equipment which may be subjected to moderately severe shocks as a result of suddenly applied forces or abrupt changes in motion produced by rough handling, transportation, or field operation. Shock of this type may disturb operating characteristics, particularly if the shock pulses are repetitive. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Décrit un essai aux chocs destiné à déterminer la bonne adaptation des éléments des composants à une utilisation dans des équipements électroniques qui peuvent être soumis à des chocs d'une sévérité modérée à la suite de l'application soudaine de forces ou de brusques modifications de déplacements au cours de manipulations brutales, du transport ou du fonctionnement sur le terrain. Des chocs de ce type peuvent perturber les caractéristiques de fonctionnement, en particulier si les impulsions de choc sont répétitives. Il s'agit d'un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité interne. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards
10,44
Language Format

Formato digital

Note: Prices do not include VAT or shipping costs

Discounts cannot be used in conjunction with each other

Add to basket