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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR

IEC 60749:1996/AMD2:2001

IEC 60749:1996/AMD2:2001

Amendment 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

Date:

2001-10-17 /Anulada

Idiomas Disponibles:

Bilingüe

Summary (English):

Summary (French):

Relationship with other IEC standards

Modifica a: IEC 60749:1996
Reemplaza a: IEC PAS 62190:2000
Reemplaza a: IEC PAS 62191:2000
Reemplaza a: IEC PAS 62207:2000
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-1:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-15:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-5:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-2:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-3:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-4:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-7:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-9:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-10:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-11:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-12:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-13:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-21:2004
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-19:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-6:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-36:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-14:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-25:2003
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-24:2004
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-8:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-20:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-31:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-22:2002
Reemplazada parcialmente por: IEC 60749-32:2002

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