You are at: Home>Standards>Standard finder>IEC

Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-13:2002

IEC 60749-13:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : Atmosphère saline

Date:
2002-04-12 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Bilingüe
Summary (English):
Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards
20,88 €

Formato digital

Note: Prices do not include VAT or shipping costs

Discounts cannot be used in conjunction with each other

Add to basket