Skip main navigation
You are at: Home>Standards>Standard finder>IEC

Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-21:2004

IEC 60749-21:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 21: Brasabilité

Date:
2004-03-15 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Establishes a standard procedure for determining the solderability of device package terminations that are intended to be joined to another surface using tin-lead or lead-free solder for the attachment. Provides a procedure for 'dip and look' solderability testing of through hole, axial and surface mount devices as well as an optional procedure for a board mounting solderability test for SMDs for the purpose of allowing simulation of the soldering process to be used in the device application.
Summary (French):
L'objet de cette méthode d'essai est de fournir un moyen pour déterminer la brasabilité des sorties des boîtiers de dispositifs qui sont destinées à être fixées sur une autre surface en utilisant de la brasure étain-plomb ou sans-plomb pour réaliser cette fixation. Cette méthode d'essai décrit une procédure pour les essais de brasabilité par "immersion puis examen visuel" des dispositifs à montage en surface (CMS) par trous traversants, axial et en surface, ainsi qu'une procédure optionnelle d'essai de brasabilité pour des CMS pour montage en surface sur carte afin de permettre la simulation du processus de brasage devant être utilisé dans l'application du dispositif. La méthode d'essai fournit également des conditions optionnelles pour le vieillissement. Cet essai est considéré comme destructif sauf indication contraire dans la spécification applicable.
Relationship with other IEC standards
161,81
Language Format

Formato digital

Note: Prices do not include VAT or shipping costs

Discounts cannot be used in conjunction with each other

Add to basket