IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV

2012-09-25 /Vigente

Inglés, Bilingüe

IEC 60749-27:2006+A1:2012 Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive. This consolidated version consists of the second edition (2006) and its amendment 1 (2012). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.

La CEI 60749-27:2006+A1:2012 Etablit une procédure normalisée pour les essais et les classements des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle de machine (MM) défini. Elle peut être utilisée comme une méthode d'essai en variante à la méthode d'essai de DES sur le modèle du corps humain. L'objectif est de fournir des résultats d'essai de DES fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées. Cette méthode d'essai est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs et elle est classée destructive. Cette version consolidée comprend la deuxième édition (2006) et son amendement 1 (2012). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.

• Anula a: IEC 60749-27:2003
• Es modificada por: IEC 60749-27:2006/AMD1:2012