IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques etclimatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)