You are at: Home>Standards>Standard finder>IEC

Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-7:2002

IEC 60749-7:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

Date:
2002-04-09 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Bilingüe
Summary (English):
Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Vise à tester et à mesurer la teneur en vapeur d'eau et en autres gaz de l'atmosphère à l'intérieur d'un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement. Applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs scellés de cette manière mais particulièrement à ceux exigés pour les applications à haute fiabilité comme dans les domaines militaire et spatial. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards
20,88 €

Formato digital

Note: Prices do not include VAT or shipping costs

Discounts cannot be used in conjunction with each other

Add to basket