Date:
2002-08-30
/Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices.
The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispo-sitifs discrets et circuits intégrés), détermine le taux de fuite des dispositifs à semiconducteurs.
Le contenu des corrigenda d'avril 2003 et d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards