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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-8:2002

IEC 60749-8:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 8: Etanchéité

Date:
2002-08-30 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispo-sitifs discrets et circuits intégrés), détermine le taux de fuite des dispositifs à semiconducteurs. Le contenu des corrigenda d'avril 2003 et d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards
83,52
Language Format

Formato digital

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