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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-12:2002

IEC 60749-12:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, fréquences variables

Date:
2002-04-30 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Bilingüe
Summary (English):
Describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Décrit l'essai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer l'effet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il s'agit d'un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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