Date:
2002-08-30
/Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads.
The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives.
Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards