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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-31:2002

IEC 60749-31:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation)

Date:
2002-08-30 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés, Bilingüe
Summary (English):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
Relationship with other IEC standards
20,88
Language Format

Formato digital

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