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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV

IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

Date:
2010-11-29 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés, Bilingüe
Summary (English):
IEC 60749-32:2002+A1:2010 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this test is to determine whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. This consolidated version consists of the first edition (2002) and its amendment 1 (2010). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.
Summary (French):
La CEI 60749-32:2002+A1:2010 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif. Cette version consolidée comprend la première édition (2002) et son amendement 1 (2010). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.
Relationship with other IEC standards
52,2 €

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