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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-6:2002

IEC 60749-6:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température

Date:
2002-04-12 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Español, Bilingüe
Summary (English):
Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Summary (French):
Vise à tester et à déterminer sur tous les dispositifs électroniques à semiconducteurs l'effet du stockage à température élevée et sans contrainte électrique appliquée. Cet essai est considéré comme non destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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